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激光粒度分析仪（LT2200E）
型号：LT2200E
产品时间：2020/5/18 15:54:14
简要描述：
LT2200E激光粒度仪加持了偏振滤波技术，摒弃传统的针孔和机械调整，实现高稳定激光偏振设置和空间滤波；真理光学首创的衍射爱里斑反常变化（ACAD)的补偿修正技术的使用，使用户无需选择分析模式，即可在全粒径范围获得准确可靠的粒度结果。 LT2200E粒度仪的粒径范围为0.1um-1200um, 适用于制药，电池材料，地质，水文，化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。
真理光学技术团队具有超过二十年的粒度表征及应用开发的经验，在全球享有很高的声誉。LT2200E是真理光学基于多年的科研成果开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统，其多项技术性能和指标均十分优异，成为当今粒度仪市场极具性价比的产品。。
LT2200E加持了以下多项创新和优势技术：
◆ 偏振滤波技术
◆ 衍射爱里斑反常变化（ACAD)的补偿修正技术
◆ 斜入射反傅里叶光路配置
◆ 格栅式大角度检测阵列技术
◆ 粒度分析模式优化及自适应技术
◆ 连续液位感知及控制技术
◆ 高灵敏度光能跟踪及稳定技术
LT2200E光学测量系统的卓越性能还包括：
◆ 完全符合ISO13320衍射法测量技术标准
◆ 独特的光路配置，超大连续的物理测量角度
◆ 改进型反演算法，用户无需选择“分析模式”，兼顾极高的分辨率和稳定性
◆ 无需更换透镜，无需使用标准样校准，量程范围达到0.1微米至1200微米
◆ 采用全息信号同步处理技术，实时测量速度高达每秒20000次，不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息
◆ 采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统，彻底克服了氦氖气体激光器预热时间长，使用寿命短的缺点
◆ 采用偏振空间滤波技术，彻底摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器
| 项目 | 指标 |
| 测量原理 | 激光衍射 |
| 光学模型 | 全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选 |
| 粒径范围 | 0.1μm-1200μm，无需更换透镜，不依赖标样校准 |
| 检测系统 | 包含格栅式超大角度，非均匀交叉面积补偿检测器阵列 |
| 测量池 | 平行斜置 |
| 光源 | 集成恒温系统的638nm，最高20mW固体激光器 |
| 空间滤波方式 | 非针孔式偏振滤波技术 |
| 光学对中系统 | 智能全自动 |
| 测量时间 | 典型值小于10秒 |
| 测量速度 | 最高可达20000次/秒 |
| 准确度 | Dv50优于±0.6% （NIST可溯源乳胶标样） |
| 重复性 | Dv50优于±0.5% （NIST可溯源乳胶标样） |
| 激光安全 | 1类激光产品 |
| 计算机配置 | Intel i5处理器，4GB内存，250GB硬盘，鼠标，键盘和宽屏显示器 |
| 计算机接口 | USB2.0或以上 |
| 软件运行平台 | Windows7或以上专业版 |
| 操作环境温度 | 5℃-40℃ |
| 操作环境湿度 | 10%-85%相对湿度（无结凝） |
| 电源要求 | 交流220V，50Hz-60Hz，标准接地 |
| 光学系统重量 | 30kg |
| 光学系统尺寸 | 670mm x 275mm x 320mm |
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