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产品详细页
型号：LFA 467 HyperFlash
产品时间：2020/1/3 15:36:52
简要描述：
无须更换检测器或炉体， LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100℃ 到 500℃ 的宽广温度范围。加上种类十分丰富的可选配件，开创了热物性测量的新天地。
一、产品简介：
宽广的温度范围，从 -100℃ 到 500℃
无须更换检测器或炉体， LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100℃ 到 500℃ 的宽广温度范围。加上种类十分丰富的可选配件，开创了热物性测量的新天地。
进样器附有 16 个样品位，样品容纳量为原来的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量 16 个样品，大大缩短了测量时间。液氮补给系统可以实现对检测器与炉体的自动补充液氮，保证仪器全天候不间断测量。
ZoomOptics 得到的测量结果更准确，减少测量误差
技术的 ZoomOptics 优化了检测器的检测范围，从而消除了孔径光阑的影响。显著增加了测量结果的精度。
极高的采样频率（2MHz），特别适合于薄膜样品
薄膜样品及高导热材料需要快速的数据采集速率，来精确地记录样品上表面的升温过程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的数据采集速率，这是 LFA 系统*的。
二、技术参数：
● 温度范围：-100°C ... 500°C，单一炉体
● 非接触式测量，IR 检测器检测样品上表面升温过程
● 数据采集速率：高达 2MHz（包括半升温信号检测，及 pulse mapping 技术）-- 对于高导热及薄膜样品，采样时间（约为半升温时间 10 倍）可低至 1ms，样品厚度最薄可至 0.01 mm 以下（取决于具体的导热系数）
● 热扩散系数测量范围：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
● 导热系数测量范围：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
● 样品尺寸：
- 直径 6 mm ... 25.4 mm（包括方形样品）
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能）
● 16 个样品位的自动进样器
● 20 多种支架类型
● 丰富的测量模式，适应各种类型的样品。如各向异性材料，多层模式分析，薄膜，纤维，液体，膏状物，粉末，熔融金属，压力下的测试，等等。
● Zoom Optics 优化检测器的检测范围（专利技术）
● 专利保护的 pulse mapping 技术（US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脉冲宽度修正，可以提高比热值的测量精度
● 气氛：惰性、氧化性、静态/动态、负压
● 遵从如下标准: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
三、ZoomOptics 获取更准确的测量结果，减小测量误差
对于传统的 LFA 系统设计，检测器所覆盖的检测面积通常被调整为适合样品的最大尺寸（25.4mm）。对于直径较小的样品，通常在样品之上加上遮光片或遮罩，以尽可能地遮蔽外围区域。但由于任何物体都会发射红外辐射，遮光片或遮罩材料也不例外，由此得到的检测器信号不可避免地会受到影响。该影响的程度大小与样品与遮罩材料的热扩散系数的差异有关。由此导致对于某些样品，检测器测得的温度上升曲线的尾部可能出现持续上升，或者过早地达到水平状态。不管是哪种情况，都会导致分析得到的半升温时间发生偏移，由此计算得到的热扩散系数产生误差。
使用 LFA467 配备的 ZoomOptics（专利号：DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03）附件，可以更灵活地调整检测器的检测范围，确保检测器仅检测到样品上表面的温度升高过程，无需额外的遮罩，周围环境信号也没有任何影响。预设的检测直径比率为 70%，适合于大多数应用，同时软件允许操作者自由调整该数值，以适应特定的样品尺寸与应用。